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Metrología y sus aplicaciones Adolfo Escamilla Esquivel
Por: Escamilla Esquivel, Adolfo Adolfo Escamilla Esquivel
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Tipo de material: 
LibroEditor: México Grupo Editorial Patria 2013Edición: 1 ed.Descripción: xii, 138p. il; Tablas 25cm.ISBN: 9789708172332.Tema(s): MediciónClasificación CDD: 634.9285
Contenidos:
Capítulo 1. Conceptos de Metrología --Capítulo 2. Instrumentos de medición dimensional -- Capítulo 3. Tolerancia y mediciones -- Capítulo 4. Incertidumbres -- Capítulo 5. Bloques patrón.
| Tipo de ítem | Ubicación actual | Colección | Signatura | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras |
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Libro
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Biblioteca Central General | Colección General | 634.9285 E743m (Navegar estantería) | Ej:1 | En tránsito de Biblioteca Central a Biblioteca Especializada Sede C desde 10/08/2022 | 004596 |
Capítulo 1. Conceptos de Metrología --Capítulo 2. Instrumentos de medición dimensional -- Capítulo 3. Tolerancia y mediciones -- Capítulo 4. Incertidumbres -- Capítulo 5. Bloques patrón.
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